000 00517nam a2200205 4500
001 itec_11276
003 DLC
008 ///////////////cc //////////////////itec//
020 _a8479783052
035 0 0 _a11276
050 _aTS156 W9501d
100 0 _aYUIN WU, ALAN WU
245 1 0 _aDISEÑO ROBUSTO UTILIZANDO LOS METODOS TAGUCHI
250 _aPRIMERA
260 _aMEXICO D.F.
300 _a294
504 _aINCLUYE INDICE
650 _a1.- INGENIERIA DE CALIDAD Y DISEÑO EXPERIMENTALÌ
942 _2lcc
_cBK
999 _c41383
_d41383